Design and optimization of 22nm NMOS transistor
In this paper, we investigate the effects of four process parameters and two process noise parameters on the threshold voltage (V th) of a 22nm NMOS transistor. We used TiO 2 as the high-k material to replace the SiO 2 dielectric. The NMOS transistor was simulated using the fabrication tool ATHENA a...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Afifah Maheran A.H., Menon P.S., Ahmad I., Shaari S., Elgomati H.A., Majlis B.Y., Salehuddin F. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | 36570222300 |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2023
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Impact of different dose and angle in HALO structure for 45nm NMOS device
بواسطة: Salehuddin F., وآخرون
منشور في: (2023) -
Modeling and optimizing of threshold voltage of 32nm NMOS transistor using L18 orthogonal array Taguchi method
بواسطة: Elgomati H.A., وآخرون
منشور في: (2023) -
Modelling of process parameters for 32nm PMOS transistor using Taguchi method
بواسطة: Elgomati H.A., وآخرون
منشور في: (2023) -
Statistical optimization for process parameters to reduce variability of 32 nm PMOS transistor threshold voltage
بواسطة: Elgomati H.A., وآخرون
منشور في: (2023) -
Design and optimization of 22 nm gate length high-k/metal gate NMOS transistor
بواسطة: Afifah Maheran A.H., وآخرون
منشور في: (2023)