Design and optimization of 22nm NMOS transistor
In this paper, we investigate the effects of four process parameters and two process noise parameters on the threshold voltage (V th) of a 22nm NMOS transistor. We used TiO 2 as the high-k material to replace the SiO 2 dielectric. The NMOS transistor was simulated using the fabrication tool ATHENA a...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , |
---|---|
مؤلفون آخرون: | |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2023
|
الموضوعات: | |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|