A new scan design technique based on pre-synthesis thru functions
VLSI design has moved from bottom-up design approach to top-down design methodology with the aid of advanced Computer-Aided Design (CAD) technology. This paper introduces a new scan design technique as a design-for-test (DFT) method for sequential circuits by exploiting the information of thru funct...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | , |
---|---|
التنسيق: | Book Section |
منشور في: |
IEEE Computer Society
2006
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/9313/ http://ieeexplore.ieee.org/document/4030763/?reload=true |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|