Analysis on surface roughness and surface reflectance through DOE
Link to publisher's homepage at http://www.ttp.net/
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Zaliman, Sauli, Dr., Retnasamy, Vithyacharan, Ong, Tee Say |
---|---|
مؤلفون آخرون: | zaliman@unimap.edu.my |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
Trans Tech Publications
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://dspace.unimap.edu.my:80/dspace/handle/123456789/33661 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Wettability and surface roughness study on RIE treated aluminium deposited surface
بواسطة: Retnasamy, Vithyacharan, وآخرون
منشور في: (2015) -
Surface roughness analysis on reactive ion etched aluminium deposited wafer
بواسطة: Zaliman, Sauli, Dr., وآخرون
منشور في: (2014) -
Low density fibrous material surface light reflectance analysis
بواسطة: Ong, Tee Say, وآخرون
منشور في: (2014) -
Interaction relationship analysis of surface roughness on aluminium etched wafer using RIE
بواسطة: Zaliman, Sauli, Dr., وآخرون
منشور في: (2014) -
Surface roughness scrutinizaton with RIE CF₄+Argon gaseous on platinum deposited wafer
بواسطة: Zaliman, Sauli, Dr., وآخرون
منشور في: (2014)