Numerical simulations of innovative ground plane and double-gate configurations in thin-body and -buried oxide of SOI MOSFETS
Doctor of Philosophy in Microelectronic Engineering
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Noraini, Othman |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Mohd Khairuddin, Md Arshad, Assoc. Prof. Ir. Dr. |
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
Universiti Malaysia Perlis (UniMAP)
2017
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://dspace.unimap.edu.my:80/xmlui/handle/123456789/77998 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
High speed and low power devices : bulk silicon versus SOI
بواسطة: Uda Hashim, Assoc. Prof. Dr.
منشور في: (2008) -
Electrical characterization of 0.15µm CMOS Transistor using TSUPREM-4 and MEDICI
بواسطة: Low Pooi Lam
منشور في: (2008) -
Fabrication Of 50 µm transistor and AlNiAu interconnection process
بواسطة: Shaffie Husin
منشور في: (2008) -
The study of the effect of MOS transistor scaling on the critical device parameters
بواسطة: Zazurina Abd Rahman
منشور في: (2008) -
Design and analysis of 90 nm two-stage operational amplifier using floating-gate MOSFET
بواسطة: Faradilla, Aziz
منشور في: (2017)