Materials interaction during soldering and isothermal ageing of Sn-Pb and Sn-Ag-Cu solders on electroless Ni/Au surface finish

In flip chip interconnection an under bump metallurgy (UBM) is required to provide a diffusion barrier, an adhesion and a solderable surface. Among the various UBM systems available the electroless nickel / immersion gold (ENIG) has received greater attention in recent years due to its low cost and...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Tai, Siew Fong
التنسيق: أطروحة
اللغة:English
منشور في: 2003
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://eprints.utm.my/id/eprint/4392/1/TaiSiewFongMFKM2003.pdf
http://eprints.utm.my/id/eprint/4392/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!