Materials interaction during soldering and isothermal ageing of Sn-Pb and Sn-Ag-Cu solders on electroless Ni/Au surface finish
In flip chip interconnection an under bump metallurgy (UBM) is required to provide a diffusion barrier, an adhesion and a solderable surface. Among the various UBM systems available the electroless nickel / immersion gold (ENIG) has received greater attention in recent years due to its low cost and...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | |
---|---|
التنسيق: | أطروحة |
اللغة: | English |
منشور في: |
2003
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://eprints.utm.my/id/eprint/4392/1/TaiSiewFongMFKM2003.pdf http://eprints.utm.my/id/eprint/4392/ |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|