Temperature dependence of leakage current in InAs avalanche photodiodes
Measurement and analysis of the temperature dependence of bulk and surface leakage currents in InAs avalanche photodiodes have been performed between 77 K and 290 K. At unity gain, SU-8 passivated InAs photodiodes have low dark current densities of 100 mA/cm2 at 290 K and 150 nA/cm2 at 77 K. An aval...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Ker, P.J., Marshall, A.R.J., Krysa, A.B., David, J.P.R., Tan, C.H. |
---|---|
التنسيق: | مقال |
اللغة: | en_US |
منشور في: |
2017
|
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
InAs electron avalanche photodiodes with 580 GHz gain-bandwidth product
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
Avalanche multiplication and excess noise in InAs electron avalanche photodiodes at 77 K
بواسطة: Marshall, A.R.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
Surface passivation of InAs avalanche photodiodes for low-noise infrared imaging
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
High speed InAs electron avalanche photodiodes overcome the conventional gain-bandwidth product limit
بواسطة: Marshall, A.R.J., وآخرون
منشور في: (2017) -
Temperature dependence of gain and excess noise in InAs electron avalanche photodiodes
بواسطة: Ker, P.J., وآخرون
منشور في: (2017)