Comparative reliability studies and analysis of Au, Pd-coated Cu and Pd-doped Cu wire in microelectronics packaging
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| 主要な著者: | , |
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| その他の著者: | |
| フォーマット: | 論文 |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
Public Library of Science
2014
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| 主題: | |
| オンライン･アクセス: | http://dspace.unimap.edu.my:80/dspace/handle/123456789/34036 |
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