Technical barriers and development of Cu wirebonding in nanoelectronics device packaging
Link to publisher's homepage at http://www.hindawi.com
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | C., L. Gan, E., K. Ng, B., L. Chan, Uda, Hashim, Prof. Dr., F., C. Classe |
---|---|
مؤلفون آخرون: | clgan pgg@yahoo.com |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
Hindawi Publishing Corporation
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://dspace.unimap.edu.my/xmlui/handle/123456789/26072 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Wearout reliability and intermetallic compound diffusion kinetics of Au and PdCu wires used in nanoscale device packaging
بواسطة: Chong, Leong Gan, وآخرون
منشور في: (2014) -
Comparative reliability studies and analysis of Au, Pd-coated Cu and Pd-doped Cu wire in microelectronics packaging
بواسطة: Gan, Chong Leong, وآخرون
منشور في: (2014) -
Extended reliability of gold and copper ball bonds in microelectronic packaging
بواسطة: Chong, Leong Gan, وآخرون
منشور في: (2014) -
Nanoelectronics
بواسطة: Universiti Malaysia Perlis (UniMAP)
منشور في: (2023) -
Shear ram height investigation for gold wire bond shear test
بواسطة: Zaliman, Sauli, Dr., وآخرون
منشور في: (2014)