Proposed Synthetic And Group Runs Control Charts Based On Runs Rules And Double Sampling Np Methods X

• Main Author: Chong , Zhi Lin
• Format: Thesis
• Language: English
• Published: 2015
• Subjects: QA1 Mathematics (General)
• Online Access: http://eprints.usm.my/31764/1/CHONG_ZHI_LIN.pdf; http://eprints.usm.my/31764/

Carta kawalan adalah alat yang penting untuk memantau satu atau lebih cirian kualiti yang diminati dalam proses pengeluaran. Carta kawalan X Shewhart yang klasik adalah carta kawalan pembolehubah yang paling luas digunakan dalam industri pembuatan dan perkhidmatan untuk memantau min sesuatu proses dengan data selanjar kerana kesenangannya kepada pekerja-pekerja industri. Carta kawalan X Shewhart adalah sangat berkesan untuk mengesan anjakan besar dalam min proses. Walau bagaimanapun, carta X Shewhart adalah kurang peka terhadap anjakan min yang kecil dan sederhana. Ini merupakan kelemahan utama carta X Shewhart. Petua-petua larian biasanya digunakan untuk meningkatkan kepekaan carta X Shewhart yang klasik bagi pengesanan anjakan min proses yang kecil dan sederhana. Suatu petua larian yang lebih baru dan berkesan ialah skema petua larian m-daripada-k yang disemak semula ( R − / mk) untuk data selanjar. Sebaliknya, dalam pemantauan proses yang melibatkan data atribut, carta kawalan np pensampelan ganda dua (DS) adalah carta yang berkesan untuk mengesan anjakan kecil hingga sederhana dalam ketidakpatuhan pecahan barangan daripada sesuatu proses. A control chart is an important tool to monitor one or more quality characteristics of interest in a production process. The classical Shewhart X control chart is the most widely used variables control chart in manufacturing and service industries to monitor the mean of a process with continuous data, due to its simplicity to shop floor personnel. The Shewhart X control chart is very effective for detecting large shifts in the process mean. However, the Shewhart X chart is insensitive to small and moderate mean shifts. This is a major disadvantage of the Shewhart X chart. Runs rules are commonly used to increase the sensitivity of the classical Shewhart X chart for detecting small and moderate process mean shifts. A more recent and efficient runs rule is the revised m-of-k ( / − R mk) runs rule scheme for continuous data. On the other hand, in process monitoring involving attribute data, the double sampling (DS) np control chart is an effective chart to detect small and moderate shifts in the fraction of nonconforming items from a process.