Confirmation of bulk modulus model of III-V compounds under pressure effect using tight-binding method
Link to publisher's homepage at http://www.elsevier.com/
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Yarub, Al - Douri |
---|---|
مؤلفون آخرون: | yarub@unimap.edu.my |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
Elsevier GmbH
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://dspace.unimap.edu.my/xmlui/handle/123456789/22935 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Structural investigation of Si0.5Ge0.5 alloy for optoelectronic applications: Ab initio study
بواسطة: Yarub, Al-Douri, Assoc. Prof. Dr., وآخرون
منشور في: (2014) -
Investigation of the optical properties of Mg(OH)2 and MgO nanostructures obtained by microwave-assisted methods
بواسطة: Al-Gaashani, R., وآخرون
منشور في: (2013) -
Structural, elastic, electronic, optical and thermal properties of c-SiGe2N4
بواسطة: Bouhemadou, A., وآخرون
منشور في: (2010) -
Current dependence growth of ZnO nanostructures by electrochemical deposition technique
بواسطة: N. K., Hassan, وآخرون
منشور في: (2013) -
Optoelectronic properties of GaAs and AlAs under temperature effect
بواسطة: Yarub, Al-Douri, Assoc. Prof. Dr., وآخرون
منشور في: (2014)